CRAWLER MPS 02 (CORROSION)

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Marca: SIUI
Modelo: MPS-02
Método Scan: Manual, escanea en cualquier dirección en el espacio 2D para área de corrosión
Diámetro: OD ≥ 100mm
Espesor recomendado: ≥ 4 mm
Transductor: Dual lineal
Precisión encoder: 0.13 mm/step
Mayor información:
www.gsl-peru.com
www.gsl-ndt.pe

Crawler 2D para mapeo de corrosión
El MPS-02 se utiliza especialmente para la inspección de corrosión con Phased Array sobre planchas y tuberías con OD ≥ 100mm,
espesor recomendado: ≥ 4 mm, escaneo en cualquier dirección en el espacio 2D.

  • Dual Eje: Escanea en el espacio 2D
  • Tiempo real: visualización en tiempo real de la posición del palpador e información estadística.
  • Eficiencia: amplia cobertura, escaneo C de alta densidad, doble cristal y enfoque de phased array.
  • Compatibilidad: tamaño de soporte del palpador personalizable, adecuado para una variedad de tipos de palpadores.

Software de adquisición de datos

  • Asistente de proceso de prueba profesional, que permite a los usuarios familiarizarse rápidamente con el proceso de prueba y realizar una configuración y calibración rápidas.
  • Simulación de pieza de trabajo y simulación de cobertura de detección para ajustar el proceso de detección.
  • Interfaz de estrategia de escaneo para que el operador comprenda el plan de escaneo de toda la pieza de trabajo antes del escaneo.
  • Puerta de seguimiento sincronizada con la onda de interfaz que monitorea el espesor mínimo de la pared y el C-SCAN de alta densidad.
  • Almacenamiento permanente de datos escaneados y generación de informes en línea.

Características superiores

  • Compacto: 130x100x90 mm, 0.8 Kg
  • IP 68, impermeable, libre de óxido, cumple con CE
  • Temperatura de operación: 0° a 40°C
  • Diseño de Mouse para fácil control
  • Encoder integrado con precisión: 0.13mm/step
  • Ruedas magnéticas o ruedas de caucho que se adaptan a diferentes materiales
  • Visualización en tiempo real de la posición del transductor e información estadística
  • Amplia cobertura, alta densidad C-Scan, focalización PA de números de cristales dobles para mejorar la eficiencia del ensayo

 

 

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