Fácil de usar, confiable, flexible
Plegable de nueva generación Phased Array & TOFD Crawler
El Phased Array y el rastreador TOFD UHTS-X02 es compatible con el detector de fallas ultrasónico PA o TOFD. Se puede plegar en el centro para soldadura longitudinal y desplegar para soldadura circunferencial, lo que permite que el crawler tenga una mejor estabilidad de acoplamiento para trabajar en tuberías más pequeñas, adecuada para pruebas de phased array o TOFD en placas y piezas de trabajo de tubería (con un diámetro superior a 500 mm).
- Estándar configuración como crawler TOFD de dos canales
- Soporta palpadores Phased Array
- Admite hasta 3 pares de soportes de palpadores simultáneamente
- Las ruedas magnéticas se pueden atraer a la pieza de trabajo probada para una fácil operación
- Estructura de guía de resorte, que sigue la superficie probada, manteniendo un buen acoplamiento entre la zapata y la pieza de trabajo.
Características superiores:
El Phased Array y el crawler TOFD UHTS-X02 tienen hasta seis combinaciones para satisfacer diferentes requisitos de aplicación:
- Combinación 1 (TOFD de 1 canal)
Trabaja con un par de palpadores TOFD para pruebas TOFD en piezas de trabajo con un espesor de pared inferior a 50 mm. - Combinación 2 (TOFD de 2 canales)
Trabaja con dos pares de palpadores TOFD para pruebas TOFD en piezas de trabajo con un espesor de pared inferior a 100 mm - Combinación 3 (único palpador Phased Array)
Trabaja con un palpador PA para pruebas de Phased Array. - Combinación 4 (dos palpadores Phased Array)
Trabaja con un par de palpadores PA para realizar pruebas de Phased Array. - Combinación 5 (dos palpadores Phased Array + 01 canal TOFD)
Trabaja con un par de palpadores PA y un par de palpadores TOFD para pruebas Phased Array + TOFD. - Combinación 6 (dos palpadores Phased Array + 02 canales TOFD)
Trabaje con un par de palpadores PA y dos pares de palpadores TOFD para pruebas Phased Array + TOFD.
Aplicación
El Crawler UHTS-X02 es compatible con el detector de fallas SUPOR, SYNCSCAN y SYNCSCAN 2 para realizar una inspección simultánea PA + TOFD, lo que puede aumentar considerablemente la cobertura de escaneo y proporcionar múltiples métodos de evaluación para evitar errores de evaluación.
